Matias V., Coulter Y., Sheehan C., Yung C., Glyantsev V., Huh J., Turner P., Dawley J., Maiorov B.M.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, fabrication, template layers, planarization, solution techniques, IBAD process, RCE-CDR process, critical caracteristics, n-value, critical current, critical current density, angular dependence, thickness dependence, magnetic field dependence, homogeneity, growth rate, presentation
Matias V., Maiorov B., Moeckly B., Coulter Y., Sheehan C., Yung C., Glyantsev V., Ruby W., Huh J., Turner P.
Ключевые слова: presentation, HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, solution techniques, planarization, long conductors, co-evaporation process, critical caracteristics, critical current, critical current density, n-value, Jc/B curves, angular dependence, pinning, substrate Hastelloy, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.